Vol 72 - N° 6 - juin 2015
P. A1-A42© Elsevier Masson SAS
Page :A2
Page :A5
Page :A29
Page :1096
Page :A35
Page :929-941
Jordon March, Matthew Hand, Douglas Grossman
Résumé PlanPage :941
Page :942
Page :943-958
Jordon March, Matthew Hand, Amanda Truong, Douglas Grossman
Résumé PlanPage :959
Page :960
Page :961
Jacqueline Vanderpuye-Orgle, Yang Zhao, Jackie Lu, Anshu Shrestha, Alison Sexton, Seth Seabury, Mark Lebwohl
Résumé PlanPage :968
April W. Armstrong, Annie Guérin, Murali Sundaram, Eric Qiong Wu, Elizabeth Sara Faust, Raluca Ionescu-Ittu, Parvez Mulani
Résumé PlanPage :978-983
Caitriona Ryan, Muriel Sadlier, Edward De Vol, Mahir Patel, Amanda Abramson Lloyd, Antoinette Day, Aoife Lally, Brian Kirby, Alan Menter
Résumé PlanPage :984-991
I-Chun Lin, Hung-Chih Yang, Carol Strong, Che-Wen Yang, Yung-Tsu Cho, Kai-Lung Chen, Chia-Yu Chu
Résumé PlanPage :992-1002
Laureline Legendre, Thomas Barnetche, Juliette Mazereeuw-Hautier, Nicolas Meyer, Dedee Murrell, Carle Paul
Résumé PlanPage :1003
Aurélia Henn, Laurence Michel, Charlotte Fite, Lydia Deschamps, Nicolas Ortonne, Saskia Ingen-Housz-Oro, Eduardo Marinho, Marie Beylot-Barry, Martine Bagot, Liliane Laroche, Béatrice Crickx, Eve Maubec
Résumé PlanPage :1010
Juliet Fraser Gibson, Onder Alpdogan, Antonio Subtil, Michael Girardi, Lynn D. Wilson, Kenneth Roberts, Francine Foss
Résumé PlanPage :1016-1020
Cesare Massone, Regina Fink-Puches, Ingrid Wolf, Iris Zalaudek, Lorenzo Cerroni
Résumé PlanPage :1021
Aleksandar Sekulic, Michael R. Migden, Karl Lewis, John D. Hainsworth, James A. Solomon, Simon Yoo, Sarah T. Arron, Philip A. Friedlander, Ellen Marmur, Charles M. Rudin, Anne Lynn S. Chang, Luc Dirix, Jeannie Hou, Huibin Yue, Axel Hauschild, ERIVANCE BCC investigators
Résumé PlanPage :1027-1035
Natalia Jaimes, Ashfaq A. Marghoob, Harold Rabinovitz, Ralph P. Braun, Alan Cameron, Cliff Rosendahl, Greg Canning, Jeffrey Keir
Résumé PlanPage :1036
Soo Young Kim, Soo Nyung Kim, Hyung Jin Hahn, Yang Won Lee, Yong Beom Choe, Kyu Joong Ahn
Résumé PlanPage :1047-1053
Susan M. Swetter, Frank W. Chen, David D. Kim, Barbara M. Egbert
Résumé PlanPage :1054-1059
Robert E. Hunger, Sarina Angermeier, S. Morteza Seyed Jafari, Adrian Ochsenbein, Maziar Shafighi
Résumé PlanPage :1060-1065
Kate V. Viola, Kameron S. Rezzadeh, Lou Gonsalves, Payal Patel, Cary P. Gross, Jane Yoo, Emily Stamell, Ryan B. Turner
Résumé PlanPage :1066-1073
Christopher R. Kieliszak, Tess H. Pollinger, Megha M. Tollefson, John R. Griffin
Résumé PlanPage :1074-1077
Michael M. Wolz
PlanPage :1078-1080
Henry W. Lim, Narumol Silpa-archa, Ugochukwu Amadi, Alan Menter, Abby S. Van Voorhees, Mark Lebwohl
Résumé PlanPage :1081-1082
Jennifer E. McWhirter, Laurie Hoffman-Goetz
Page :1082-1084
Liran Horev, Susanne Unger, Vered Molho-Pessach, Tomer Meir, Alex Maly, Polina Stepensky, Mariana Zamir, Baerbel Keller, Sofia Babay, Klaus Warnatz, Yuval Ramot, Abraham Zlotogorski
Page :1084-1085
Jules B. Lipoff, Gabriela Cobos, Steven Kaddu, Carrie L. Kovarik
Page :1085-1087
Laura Miguel-Gomez, Sergio Vano-Galvan, Bibiana Perez-Garcia, Rosario Carrillo-Gijon, Pedro Jaen-Olasolo
Page :1087-1088
Sergio Vañó-Galván, Ana Rita Rodrigues-Barata, Marta Urech, Natalia Jiménez-Gómez, David Saceda-Corralo, John Paoli, Jesús Cuevas, Pedro Jaén
Page :1088-1090
Kate M. Newland, Christopher J. McCormack, Robert Twigger, Odette Buelens, Charlotte F.M. Hughes, Stephen Lade, Michael Dickinson, Lee Mei Yap, Gail Ryan, H. Miles Prince
Page :1090-1092
Li-Ting Kao, Kuo-Hsien Wang, Herng-Ching Lin, Ming-Chieh Tsai, Shiu-Dong Chung
Page :1092-1094
Jerod L. Stapleton, Katie Darabos, Amanda Carpenter, M. Jane Lewis, Kathryn Greene, Shawna V. Hudson
Page :1094-1095
Shannon Famenini, Lewei Duan, Lorraine Young
Page :1096
Page :1097-1098
Page :1099-1118
PlanPage :1119-1146
PlanPage :e139
Iria Neri, Annalucia Virdi, Carlotta Baraldi, Patrizi Annalisa
Page :e141
Joo Hee Lee, Ji Hae Lee, Chang Young Yoo, Gyong Moon Kim, Jung Min Bae
Page :e143
Rosa Coppola, Mattia Carbotti, Salvatore Zanframundo, Maria Verona Rinati, Antonio Graziano, Vincenzo Panasiti
PlanPage :e147
Edith Arzberger, Andre Oliveira, Rainer Hofmann-Wellenhof, Iris Zalaudek, Lorenzo Cerroni, Peter Komericki
PlanPage :e151
Graziella Babino, Francesca Specchio, Aimilios Lallas, Caterina Longo, Elvira Moscarella, Giuseppe Argenziano
PlanPage :e153
Feroze Kaliyadan, Joel Kuruvilla
PlanPage :e155
Karalikkattil T. Ashique, Feroze Kaliyadan
PlanPage :e157
Melissa Danesh, Jenny E. Murase
PlanPage :e159
Melissa Danesh, Jenny E. Murase
PlanPage :e161
Sibel Ersoy-Evans
PlanPage :e163
Jonathan Kantor
PlanPage :e165
Julia Pettersen Neckman, Suguru Imaeda
PlanPage :e167
Bolanle Metiko, Kara Brooks, Craig G. Burkhart, Craig N. Burkhart, Dean Morrell
Page :e169
Jason P. Lott
Page :e171
Risa Tamagawa-Mineoka, Satoshi Teramukai, Norito Katoh
Page :e173
Stéphanie Leclerc-Mercier, Christine Bodemer, Benoit Michel, Nadem Soufir, Eva Bourdon-Lanoy, Annonciade Frassatti-Biaggi, Philippe Delanoe, Sylvie Fraitag, Smail Hadj-Rabia
Page :e177
Enrico Scala, Damiano Abeni, Giandomenico Russo, Maria Grazia Narducci
Page :e179
Liisa Väkevä, Soili Mäkinen-Kiljunen, Annamari Ranki
Page :e181
Howa Yeung, Robert A. Swerlick
Page :e183
Era Caterina Murzaku, Tara Bronsnick, Babar K. Rao
Page :e185
Nooshin K. Brinster
Page :e187
Robert I. Rudolph
Page :e187
Robert I. Rudolph
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.