Vol 44 - N° 2P1 - février 2001
P. 159-320© Elsevier Masson SAS
Page :159-182
Herbert L. Bonkovsky, Savant Mehta
Résumé
Plan
Page :183-187
Molly Wanner, Julide Tok Çelebi, Monica Peacocke
Résumé
Plan
Page :188-192
Silvia Moretti, Adelina Spallanzani, Alessandra Chiarugi, Massimo Fabiani, Cinzia Pinzi
Résumé
Plan
Page :193-197
Jack L. Arbiser, Sharon W. Weiss, Zoya K. Arbiser, Francisco Bravo, Baskaran Govindajaran, Hector Caceres-Rios, George Cotsonis, Sixto Recavarren, Robert A. Swerlick, Cynthia Cohen
Résumé
Plan
Page :198-206
Julie V. Schaffer, Diane M. Davidson, Jennifer M. McNiff, Jean L. Bolognia
Résumé
Plan
Page :207-218
Marek Elbaum, Alfred W. Kopf, Harold S. Rabinovitz, Richard G.B. Langley, Hideko Kamino, Martin C. Mihm, Arthur J. Sober, Gary L. Peck, Alexandru Bogdan, Dina Gutkowicz-Krusin, Michael Greenebaum, Sunguk Keem, Margaret Oliviero, Steven Wang
Résumé
Plan
Page :219-223
Fabien Guibal, Pauline de La Salmonière, Michel Rybojad, Smail Hadjrabia, Laure Dehen, Guillaume Arlet
Résumé
Plan
Page :224-230
Alan B. Fleischer, Steven R. Feldman, James O. Barlow, Beiyao Zheng, Holly B. Hahn, Tsu-Yi Chuang, Karla S. Draft, Loren E. Golitz, Ernest Wu, Aaron S. Katz, John C. Maize, Todd Knapp, Barry Leshin
Résumé
Plan
Page :231-238
Naoko Kato, Kana Yasukawa, Kumiko Kimura, Hiroshi Sugawara, Satoru Aoyagi, Takayuki Mishina, Tadanobu Nakata
Résumé
Plan
Page :239-247
Julia J. Scarisbrick, Eduardo Calonje, Guy Orchard, Fiona J. Child, Robin Russell-Jones
Résumé
Plan
Page :248-252
Stefanie C. Behrens-Williams, Ulrike Leiter, Ralf Schiener, Michael Weidmann, Ralf U. Peter, Martina Kerscher
Résumé
Plan
Page :253-260
Uwe Wollina, Annette Looks, Jochen Meyer, Burkhard Knopf, Hans-Jürgen Koch, Kristin Liebold, Uta-Christina Hipler
Résumé
Plan
Page :261-264
Julie Byrd, Darius R. Mehregan, David A. Mehregan
Résumé
Plan
Page :265-272
Elena Filler Kandel, Richard G. Bennett
Résumé
Plan
Page :273-281
Franco Rongioletti, Alfredo Rebora
Résumé
Plan
Page :282-284
Conleth A. Egan, Constantine A. Stratakis, Maria L. Turner
Résumé
Plan
Page :285-287
Klaus W. Schulte, Norbert J. Neumann, Thomas Ruzicka
Résumé
Page :287
Plan
Page :288-292
Kristen A. Richards, Kazuyoshi Fukai, Naoki Oiso, Amy S. Paller
Résumé
Plan
Page :293-297
Désirée Ratner, Monica Peacocke, Hong Zhang, Xiao Li Ping a, Hui C. Tsou
Résumé
Plan
Page :298-299
Seaver Lee Soon, Richard I. Crawford
Résumé
Plan
Page :300-302
Marvin H. Klapman, Janis F. Yao
Résumé
Plan
Page :303-304
Rebecca D. Baxt, David Margolis
Résumé
Plan
Page :305-307
Yasuhiro Kawabata, Kuniaki Ohara, Haruko Hino, Kunihiko Tamaki
Résumé
Plan
Page :308-309
George J. Francis, Alan R. Silverman, Osama Saleh, Grace J. Lee
Plan
Page :309
William Abramovits
Plan
Page :309-310
Nikos Protonotarios, Adalena Tsatsopoulou, Guy Fontaine
Plan
Page :311-312
Leslie M. Beaird, Nina Kahloon, Jose Franco, Janet A. Fairley
Plan
Page :312
Robert I. Rudolph
Plan
Page :312
Robert Baran
Plan
Page :312-313
Mark Acosta, April Teitelbaum
Plan
Page :313-314
Craig G. Burkhart
Plan
Page :314-316
Annieke Nijssen, Ronald Laeijendecker, Robert J. Heinhuis, Sybren K. Dekker
Plan
Page :316-317
Murad Alam, Richard K. Scher, David R. Bickers
Plan
Page :318-319
Charles E. Moore
Page :319-320
George J. Hruza
Page :320
Mary E. Shepherd
Page :13A
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.
Numéro précédent
