Vol 132 - N° 2P1 - août 1996
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Page :286-296
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Page :297-302
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Page :303-313
Marc A. Kates, Mario F. Meza, R.Wayne Barbee, Susan Revall, Carlos A. Moreno, Bret Perry, Joseph P. Murgo, Jorge Cheirif
Page :314-318
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Page :319-327
George C. Haidet, Paul W. Wennberg, Stanley M. Finkelstein, Dennis J. Morgan
Page :328-336
Bruce J. Kimura, Valmik Bhargava, Wulf Palinski, Robert J. Russo, Anthony N. DeMaria
Page :337-342
Marcus F. Stoddard, Robert T. Hammons, Rita A. Longaker
Page :343-347
Jack Chen, Peter M. Okin, Mary J. Roman, Clare Hochreiter, Richard B. Devereux, Jeffrey S. Borer, Paul Kligfield
Page :348-355
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Page :356-360
Mohamed E. Fawzy, W.B. Choi, L. Mimish, V. Sivanandam, J. Lingamanaicker, A. Khan, A. Patel, B. Khan
Page :361-368
Hirofumi Kanda, Mitsuhiro Yokota, Hitoshi Ishihara, Kohzo Nagata, Ryozo Kato, Toshikazu Sobue
Page :369-375
Xavier Copie, Françoise Pousset, Philippe Lechat, Patrice Jaillon, Louis Guize, Jean-Yves Le Heuzey, Cardiac Insufficiency Bisoprolol Study Investigators
Page :376-381
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Page :382-390
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