Vol 72 - N° 1 - janvier 2016
P. 1-130© Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :1-18
Jaap ten Oever, Mihai G. Netea, Bart-Jan Kullberg
Résumé PlanPage :19-28
Monique Vogel, Roland P.H. Schmitz, Stefan Hagel, Mathias W. Pletz, Nico Gagelmann, André Scherag, Peter Schlattmann, Frank M. Brunkhorst
Résumé PlanPage :29-35
Frederike M.J. Reischies, Juergen Prattes, Florian Prüller, Susanne Eigl, Agnes List, Albert Wölfler, Walter Buzina, Ines Zollner-Schwetz, Thomas Valentin, Jasmin Rabensteiner, Holger Flick, Robert Krause, Reinhard B. Raggam, Martin Hoenigl
Résumé PlanPage :36-44
S. Williams, P. Markey, M. Harlock, P. Binns, J. Gaggin, M. Patel
Résumé PlanPage :45-51
Maria del Castillo, Anabella Lucca, Andrew Plodkowski, Yao-Ting Huang, Janice Kaplan, Kathleen Gilhuley, N. Esther Babady, Susan K. Seo, Mini Kamboj
Résumé PlanPage :52-59
Ming Pan, Rongbao Gao, Qiang Lv, Shunhe Huang, Zhonghui Zhou, Lei Yang, Xiaodan Li, Xiang Zhao, Xiaohui Zou, Wenbin Tong, Suling Mao, Shumei Zou, Hong Bo, Xiaoping Zhu, Lei Liu, Heng Yuan, Minghong Zhang, Daqing Wang, Zumao Li, Wei Zhao, Maoli Ma, Yaqiang Li, Tianshu Li, Huiping Yang, Jianan Xu, Lijun Zhou, Xingyu Zhou, Wei Tang, Ying Song, Tao Chen, Tian Bai, Jianfang Zhou, Dayan Wang, Guizhen Wu, Dexin Li, Zijian Feng, George F. Gao, Yu Wang, Shusen He, Yuelong Shu
Résumé PlanPage :60-69
Staci L. Sudenga, B. Nelson Torres, Matthys H. Botha, Michele Zeier, Martha E. Abrahamsen, Richard H. Glashoff, Susan Engelbrecht, Maarten F. Schim Van der Loeff, Louvina E. Van der Laan, Siegfried Kipping, Douglas Taylor, Anna R. Giuliano
Résumé PlanPage :70-79
María D. Esteban-Vasallo, M. Felicitas Domínguez-Berjón, Ángel Gil de Miguel, Jenaro Astray-Mochales, Luis M. Blanco-Ancos, Ruth Gil-Prieto
Résumé PlanPage :80-90
Jiufeng Sun, De Wu, Huiqiong Zhou, Huan Zhang, Dawei Guan, Xiang He, Songwu Cai, Changwen Ke, Jinyan Lin
Résumé PlanPage :91-102
Eisuke Murakami, Masataka Tsuge, Nobuhiko Hiraga, Hiromi Kan, Takuro Uchida, Keiichi Masaki, Takashi Nakahara, Atsushi Ono, Daiki Miki, Tomokazu Kawaoka, Hiromi Abe, Michio Imamura, Hiroshi Aikata, Hidenori Ochi, C. Nelson Hayes, Tomoyuki Akita, Junko Tanaka, Kazuaki Chayama
Résumé PlanPage :103-111
Sébastien Bailly, Danièle Maubon, Pierre Fournier, Hervé Pelloux, Carole Schwebel, Claire Chapuis, Luc Foroni, Muriel Cornet, Jean-François Timsit
Résumé PlanPage :112-115
Pere Godoy, Sonia Broner, Sandra Manzanares-Laya, Ana Martínez, Ignasi Parrón, Caritat Planas, Maria-Rosa Sala-Farré, Sofia Minguell, Patricia Garcia de Olalla, Mireia Jané, Angela Dominguez
Résumé PlanPage :115-118
You La Jeon, Myeong Hee Kim, Hyung-Seok Yang, So Young Kang, Woo In Lee
PlanPage :118-120
Junping Peng, Ke Li, Chi Zhang, Lei Gao, Qi Jin
PlanPage :120-121
Guillaume Béraud, Gwenaël Le Moal, Sophie Sury, Nicolas Venisse
PlanPage :121-123
Guanghao Sun, Masahiko Akanuma, Takemi Matsui
PlanPage :123-125
Biao He, Shibo Jiang, Lu Lu
PlanPage :125-126
Aula Abbara, Ann Tivey, Laurence John, Robert N. Davidson
Résumé PlanPage :127-129
Priyasheelta Nand, Machelle D. Wilson, Stuart H. Cohen, Jennifer Brown
Résumé PlanEM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.