Vol 72 - N° 1 - juillet 2008
P. A1-A12© Elsevier Masson SAS
Page :A2
Page :A3
Page :1
Seth P. Lerner
Page :2
Page :3-9
Ida J. Korfage, Monique Roobol, Harry J. de Koning, Wim J. Kirkels, Fritz H. Schröder, Marie-Louise Essink-Bot
Page :10-14
Richard A. Watson, Monika Sidor
Page :15-23
Roy Berryhill, Jay Jhaveri, Rajiv Yadav, Robert Leung, Sandhya Rao, Assaad El-Hakim, Ashutosh Tewari
Page :24-28
Khurshid R. Ghani, James Pilcher, David Rowland, Uday Patel, Daruish Nassiri, Ken Anson
Page :29-32
Brad W. Warner, Chad A. LaGrange, Tarvez Tucker, Meriem Bensalem-Owen, Vernon M. Pais
Page :32-33
Margaret S. Pearle
Page :33
Vernon M. Pais
Page :34-36
Ciamack Kamdar, Unni M.M. Mooppan, Frederick A. Gulmi, Hong Kim
Page :37-41
Jennifer T. Anger, Christopher S. Saigal, MingMing Wang, Elizabeth M. Yano, Urologic Diseases in America Project
Page :41
Tomas L. Griebling
Page :42-46
Mihir M. Desai, Monish Aron, Inderbir S. Gill, Georges Pascal-Haber, Osamu Ukimura, Jihad H. Kaouk, Gregory Stahler, Federico Barbagli, Christopher Carlson, Fredric Moll
Page :47-50
Nilesh N. Patil, Alexandre Mottrie, Bala Sundaram, Vipul R. Patel
Page :50
Sam B. Bhayani
Page :50
Nilesh N. Patil, Vipul R. Patel
Page :51-56
Elias S. Hyams, Ojas Shah
Page :57-60
Clifford Sung, Harmanmeet Singh, Marissa Schwartz, Gabriella Mirabile, Gregory W. Hruby, Caroline D. Ryan, Jaime Landman
Page :61-64
Michael W. Rowley, Gary J. Faerber, J. Stuart Wolf
Page :65
Warwick C. Pepper, Shanka K. Benaragama, Jas S. Kalsi, Omer Karim
Page :66-67
Chen-Hsun Ho, Hong-Jeng Yu, Kuo-How Huang
Page :68-71
Lane S. Palmer, Jeffrey S. Palmer
Page :72-76
Jennifer Hagerty, Max Maizels, Andrew Kirsch, Dennis Liu, Kourosh Afshar, Timothy Bukowski, Paolo Caione, Yves Homsy, Theresa Meyer, William Kaplan, PIC Cystography Group
Page :77-80
Mark A. Preston, Toby Carnat, Trevor Flood, Isabelle Gaboury, Michael P. Leonard
Page :81-84
Joshua J. Field, Paul F. Austin, Ping An, Yan Yan, Michael R. DeBaun
Page :85-89
Anthony J. Woodruff, Emily E. Cole, Roger R. Dmochowski, Harriette M. Scarpero, Edwin N. Beckman, J. Christian Winters
Page :90-94
Evren Suer, Ilker Gokce, Onder Yaman, Kadri Anafarta, Orhan Göğüş
Page :95-98
Masaru Ohi, Kazuto Ito, Takumi Yamamoto, Mai Miyakubo, Hiroyuki Takechi, Yutaka Kubota, Kazuhiro Suzuki
Page :99-103
Won Sik Ham, Dae Ryong Kang, Young Sig Kim, Do Hwan Seong, Se Joong Kim, Sang Hyeon Cheon, In Rae Cho, Jin Seon Cho, Chun Il Kim, Young Deuk Choi
Page :104-108
Hsin-Tzu Liu, Hann-Chorng Kuo
Page :108
James M. Cummings
Page :108
Hann-Chorng Kuo
Page :109-113
Armand Zini, Jason Boman, Keith Jarvi, Abdulaziz Baazeem
Page :114-118
Shingo Takada, Akira Tsujimura, Tomohiro Ueda, Yasuhiro Matsuoka, Tetsuya Takao, Yasushi Miyagawa, Minoru Koga, Masami Takeyama, Yoshio Okamoto, Kiyomi Matsumiya, Hideki Fujioka, Norio Nonomura, Akihiko Okuyama
Page :119-123
Antonio Ramos, Angel Asensio, Elena Muñez, Julian Torre-Cisneros, Miguel Montejo, Jose Maria Aguado, Federico Cofán, Jordi Carratalá, Oscar Len, Jose Miguel Cisneros
Page :124-127
Shou-Hung Tang, Deepti Kamat, Richard A. Santucci
Page :128-132
Girish S. Kulkarni, Antonio Finelli, Gina Lockwood, Arthy Saravanan, Andrew Evans, Michael A.S. Jewett, John Trachtenberg, Michael Robinette, Neil E. Fleshner
Page :133-137
Seth P. Lerner, Alvin C. Goh, Nancy J. Tresser, Steven S. Shen
Page :138-142
Jason Rothman, Paul L. Crispen, Yu-Ning Wong, Tahseen Al-Saleem, Eric Fox, Robert G. Uzzo
Page :143-147
Stacy Loeb, Kimberly A. Roehl, C. Shad Thaxton, William J. Catalona
Page :148-152
Candace F. Granberg, Stephen A. Boorjian, Hartzell V. Schaff, Thomas A. Orszulak, Bradley C. Leibovich, Christine M. Lohse, John C. Cheville, Michael L. Blute
Page :153-157
Chih-Hsiung Kang, Po-Hui Chiang, Shun-Chen Huang
Page :158-161
Kevin B. Blumenthal, Douglas E. Sutherland, Kristofer R. Wagner, Harold A. Frazier, Jason D. Engel
Page :162-166
Giuseppe Simone, Rocco Papalia, Costantino Leonardo, Rosario Sacco, Rocco Damiano, Salvatore Guaglianone, Ester Forastiere, Michelle Gallucci
Page :167-171
Takahiro Goto, Nguyen Ba Phuoc, Masahiro Nakano, Hidetoshi Ehara, Naoki Yamamoto, Takashi Deguchi
Page :172-176
David J. Hernandez, Matthew E. Nielsen, Misop Han, Bruce J. Trock, Alan W. Partin, Patrick C. Walsh, Jonathan I. Epstein
Page :177-182
Ayyathurai Rajinikanth, Murugesan Manoharan, Cynthia T. Soloway, Francisco J. Civantos, Mark S. Soloway
Page :183-187
Maddalena Barba, Irene Terrenato, Holger J. Schünemann, Barbara Fuhrman, Francesca Sperati, Barbara Teter, Michele Gallucci, Alberto D'Amato, Paola Muti
Page :188-191
Warner Prevoo, Maurice A.A.J. van den Bosch, Simon Horenblas
Page :192-195
Jesco Pfitzenmaier, Christian Gilfrich, Axel Haferkamp, Stephan Buse, Markus Hohenfellner
Page :196-197
Iqbal S. Shergill, Taufiq Shaikh, Manit Arya, Islam Junaid
Page :198-204
Soroush Rais-Bahrami, Adam W. Levinson, Nathaniel M. Fried, Gwen A. Lagoda, Alexandra Hristov, Ying Chuang, Arthur L. Burnett, Li-Ming Su
Page :205-213
Isaiah G. Schauer, Steven J. Ressler, Jennifer A. Tuxhorn, Truong D. Dang, David R. Rowley
Page :214-219
Wei-Yu Lin, Alexandra Rehfuss, Catherine Schuler, Robert M. Levin
Page :220-224
Yufeng Huang, Lianjun Pan, Xinyi Xia, Yao Feng, Chunxia Jiang, Yingxia Cui
Page :225-229
Kent Perry, Larry Wong, Victoria Liu, Irwin Park, Qiang Zhang, Varun Rejen, Xuemei Huang, Norm D. Smith, Borko Jovanovic, Scott Lonning, Beverly A. Teicher, Chung Lee
Page :230.e1
David A. Elphick, Paul R. Tophill, S. Kim Suvarna, Stuart A. Riley
Page :230.e5
Jeffrey T. Lordan, William J. Fawcett, Nariman D. Karanjia
Page :230.e7
Paul J. Smith, Rowena DeSouza, David R. Roth
Page :230.e11
Ke-Hsun Lin, Sey-En Lin, Liang-Ming Lee
Page :230.e15
Ilker Akyol, Venkata R. Jayanthi, Mark H. Luquette
Page :231
Roman P. Korolkiewicz, Krzysztof Kuziemski
Page :231-232
Elmar W. Gerharz
Page :232
Richard E. Hautmann, Robert D. Mills
Page :232-233
Leendert H.J. Looijenga, Ad J.M. Gillis, J. Wolter Oosterhuis
Page :233
Bill P. Vanasupa, Randal A. Aaberg, Ronald S. Sutherland
Page :233-234
Matthias Oelke, Hessel Wijkstra
Page :234-235
Fikret Erdemir
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2026 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.