Vol 63 - N° 1 - janvier 2004
P. 1-216© Elsevier Masson SAS
Page :1
Alan W. Partin
Page :2-6
Karen Elizabeth Boyle, Nikos Vlahos, Jonathan P. Jarow
Page :7-11
Yuji Kato, Satoshi Yamaguchi, Sunao Yachiku, Shusaku Nakazono, Jun-ichi Hori, Naoki Wada, Kyokushin Hou
Page :11-12
Dean G. Assimos
Page :13-16
Aldo Franco De Rose, Fabrizio Gallo, Matteo Giglio, Giorgio Carmignani
Page :17-21
John W. Warren, Theresa L. Jackson, Patricia Langenberg, Deborah J. Meyers, Jianfeng Xu
Page :22-26
Susan Keay, Chen-Ou Zhang, Toby Chai, John Warren, Kristopher Koch, David Grkovic, Heidi Colville, Richard Alexander
Page :27-32
J.Kellogg Parsons, Ioannis Varkarakis, Koon H. Rha, Thomas W. Jarrett, Peter A. Pinto, Louis R. Kavoussi
Page :33-35
A.Karim Touijer, Guido Dalbagni
Page :36-39
M.Y. Lind, E.J. Hazebroek, W.J. Kirkels, W.C.J. Hop, W. Weimar, J.N.M. Ijzermans
Page :39-40
Stephen C. Jacobs
Page :41-45
Manlio A. Goetzl, Manisha Desai, Mahesh Mansukhani, Erik T. Goluboff, Aaron E. Katz, Ihor S. Sawczuk, Mitchell C. Benson, Carl A. Olsson, James M. McKiernan
Page :46-50
Ashish M. Kamat, Ryan P. Shock, Yoshio Naya, Charles J. Rosser, Joel W. Slaton, Louis L. Pisters
Page :51-55
K.C. Balaji, Paulos Yohannes, Corrigan L. McBride, Dmitry Oleynikov, George P. Hemstreet
Page :56-60
J.W.N.C. Huang Foen Chung, A.M. Bohnen, J.J.M. Pel, J.L.H.R. Bosch, R. Niesing, R. van Mastrigt
Page :61-66
Alex C. Wang, Ya-Ying Wang, Min-Chi Chen
Page :67-71
Beata Stach-Lempinen, Pertti Kirkinen, Pekka Laippala, Riina Metsänoja, Erkki Kujansuu
Page :71-72
Magnus Fall
Page :73-77
Michaël Peyromaure, JerÔme Slama, Philippe Beuzeboc, Dominique Ponvert, Bernard Debré, Marc Zerbib
Page :78-82
David I. Gregorio, Martin Kulldorff, T.Joseph Sheehan, Holly Samociuk
Page :83-86
Chakshu Gupta, Jian Z. Ren, Kirk J. Wojno
Page :87-89
Amit R. Patel, J.Stephen Jones, John Rabets, Gerard DeOreo, Craig D. Zippe
Page :90-94
Christopher R. Porter, Jason Kim
Page :95-98
Brett A. Laven, Nejd F. Alsikafi, Ximing J. Yang, Charles B. Brendler
Page :99-102
Sam B. Bhayani, Christian P. Pavlovich, Stephen E. Strup, Douglas M. Dahl, Jaime Landman, Michael D. Fabrizio, Chandru P. Sundaram, Jihad H. Kaouk, Li-Ming Su
Page :103-109
Vibha Bhatnagar, Susan T. Stewart, William W. Bonney, Robert M. Kaplan
Page :110-113
Chandrika Patel, Mohamed A. Elshaikh, Kenneth Angermeier, James Ulchaker, Eric A. Klein, Nabil Chehade, D.Allan Wilkinson, Chandana A. Reddy, Jay P. Ciezki
Page :114-119
Mario A. Eisenberger, Menachem Laufer, Nicholas J. Vogelzang, Oliver Sartor, Donald Thornton, Blake Lee Neubauer, Victoria Sinibaldi, Gary Lieskovsky, Michael A. Carducci, Mariana Zahurak, Derek Raghavan
Page :120-125
Meletios A. Dimopoulos, Christos Kiamouris, Dimitra Gika, Charalambos Deliveliotis, Aris Giannopoulos, Anastasios Zervas, Christos Alamanis, Constantinos Constantinidis, Michael Koutsilieris
Page :126-130
Manoj Monga, Bogdan Alexandrescu, Seth E. Katz, Murray Stein, Theodore Ganiats
Page :131-136
Pao-Lin Kuo, Ying-Hung Lin, Yen-Ni Teng, Chao-Chin Hsu, Johnny Shinn-Nan Lin, Yung-Ming Lin
Page :136
Robert Oates
Page :137-140
Tomomoto Ishikawa, Sadao Kamidono, Masato Fujisawa
Page :141-143
Armand Zini, Marc Anthony Fischer, Robert K. Nam, Keith Jarvi
Page :144-148
Robert J. Amato, Jae Y. Ro, Alberto G. Ayala, David A. Swanson
Page :148-149
R.T. Oliver
Page :150-154
K.N. Moore, S. Schieman, T. Ackerman, H.Y. Dzus, J.B. Metcalfe, D.C. Voaklander
Page :155-158
Temuçİn Şenkul, Cüneyt İşerİ, Bülent şen, Kenan Karademİr, Firat Saraçoğlu, Doğan Erden
Page :159-162
Endre Holman, A.Munim Khan, Tibor Flasko, Csaba Toth, Morshed A. Salah
Page :162
Ranjiv I. Mathews
Page :163-166
Harrison M. Abrahams, Maxwell V. Meng, Chris E. Freise, Marshall L. Stoller
Page :167-169
Greg J. Horwitz, David F. Jarrard
Page :170-173
Mehmet Arslan, Mehmet Kilinç, Kadir Yilmaz, Ahmet Öztürk
Page :174
Thomas H.S. Hsu
Page :175-176
Peter C. Fisher, Brent K. Hollenbeck, Jeffrey S. Montgomery, Willie Underwood
Page :175-176
Chris Whelan, Bradley F. Schwartz
Page :175-176
Tagore M. Grandhi, Odhran Shelley, Arup K. Ray, John R. McGregor
Page :175-176
Sidney C. Abreu, Jihad H. Kaouk, Andrew P. Steinberg, Inderbir S. Gill
Page :175-176
Tung Shu, Debora K. Moore, Robert G. Moore
Page :175-177
Lucia M. Dolan, Sunitha P. Easwaran, Paul Hilton
Page :176-177
FranÇois-Joseph L. Murat, Matthew T. Gettman
Page :176-177
Ronald L. Yap, Thomas L. Jang, Rohit Gupta, Michael R. Pins, Christopher M. Gonzalez
Page :176-177
Hee Jong Jeong
Page :176-178
Mike M. Nguyen, Alan S. Corr, Christopher P. Evans
Page :177-183
Arup Chakraborty, Scott M. White, Seth P. Lerner
Page :184-189
Cleber E. Teixeira, Juliano F. de Oliveira, Juliana S. Baracat, Fernanda B.M. Priviero, Cristina E. Okuyama, Nelson Rodrigues Netto, Adriano Fregonesi, Edson Antunes, Gilberto De Nucci
Page :190-194
Joerg Miller, Michael Hesse, Thorsten Diemer, Joerg Haenze, Ina Knerr, Wolfgang Rascher, Wolfgang Weidner
Page :195-200
Cavit Can, Fatma Töre, Neşe Tunçel, Onur Uysal, Firdevs Gürer, Dilek Ak, Muzaffer Tunçel
Page :201-206
Hunter Wessells, Stephen H. King, Monika Schmelz, Raymond B. Nagle, Ronald L. Heimark
Page :207-209
James E. Montie, Joseph A. Smith
Page :210
Ahmed Shafik
Page :210-211
Igor But
Page :211
Shu-Keung Li, Simon See-Ming Hou, Michael Li
Page :211-212
Yoshihiko Wakabayashi
Page :212
Stanley J. Antolak
Page :215-216
Page :A4
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2025 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.