Vol 56 - N° 4 - octobre 2000
P. A1-A44© Elsevier Masson SAS
Page :549-560
Mark R Feneley, Mark Schoenberg
Page :561-564
Hyung L Kim, David S Stoffel, Deborah A Mhoon, Charles B Brendler
Page :565-568
Kyle J Weld, Marshall J Graney, Roger R Dmochowski
Page :568-569
Inder Perkash
Page :569
Roger R Dmochowski
Page :570-574
A.K Hemal, N.P Gupta, T.P Rajeev, Rajeev Kumar, L Dar, P Seth
Page :575-578
Jeffery T Cooper, Gary M Stack, Thomas P Cooper
Page :579-582
Francesco Porpiglia, Paolo Destefanis, Cristian Fiori, Dario Fontana
Page :582-583
Glenn M Preminger
Page :584-588
H.G van der Poel, B.W.G van Rhijn, P Peelen, F.M.J Debruyne, M.E Boon, J.A Schalken
Page :589-594
J.Quentin Clemens, John O DeLancey, Gary J Faerber, O.Lenayne Westney, Edward J Mcguire
Page :594-595
Roger Dmochowski
Page :596-599
Daniel S Blander, Philippe E Zimmern
Page :600-603
Dimitri D Kuznetsov, Hyung L Kim, Rajesh V Patel, Gary D Steinberg, Gregory T Bales
Page :604-609
D.L Floratos, G.S Sonke, E.A.E Francisca, L.A.L.M Kiemeney, F.M.J Debruyne, J.J.M.C.H de la Rosette
Page :610-616
Steven Kaplan, Dennis Garvin, Patricia Gilhooly, Max Koppel, Richard Labasky, Richard Milsten, Pratap Reddy, Steven Rosenberg, David Sussman, Charles White, Michael Lee, Frances Pappas, Joanne Waldstreicher, the PLESS STUDY GROUP
Page :617-621
André N Vis, Michiel O Boerma, Stefano Ciatto, Robert F Hoedemaeker, Fritz H Schröder, Theo H van der Kwast
Page :622-626
Reza Z Goharderakhshan, Gary D Grossfeld, Adrienne Kassis, Katsuto Shinohara, Mack Roach, Peter R Carroll
Page :627-630
Gregory T Bales, Glenn S Gerber, Thomas X Minor, Deborah A Mhoon, Jeanne M McFarland, Hyung L Kim, Charles B Brendler
Page :631-634
Gregory P Zagaja, Deborah A Mhoon, James E Aikens, Charles B Brendler
Page :635-640
Hui Meng Tan, Clarence Lei Chang Moh, Jesus Benjamin Mendoza, Telesforo Gana, German Jose Albano, Reynaldo de la Cruz, Peter Lim Huat Chye, Christopher Cheng Wai Sam, for the ASSESS-1 STUDY GROUP
Page :641-646
Hunter Wessells, Dan Gralnek, Robert Dorr, Victor J Hruby, Mac E Hadley, Norman Levine
Page :647-652
Jack Baniel, Solomon Israilov, Dov Engelstein, Joseph Shmueli, Ephraim Segenreich, Pinhas M Livne
Page :653-657
Walid Farhat, Gordon McLorie, Gianpaolo Capolicchio, Antoine Khoury, Darius Bägli, Paul A Merguerian
Page :657
Page :657
R.Dixon Walker
Page :658-662
O.Lynn Avant, Jeffrey A Jones, Howard Beck, Corbin Hunt, Michael Straub
Page :663-664
R.A Cormack, A.V D’Amico, Nobuhiko Hata, S Silverman, M Weinstein, C.M Tempany
Page :665-668
Douglas E. Coplen, Julia Spencer Barthold
Page :669
Cara Gatto-Weis, David Topolsky, Bruce Sloane, J.Steve Hou, Hong Qu, Billie S Fyfe
Page :669
Mazen M Dimachkie, Sevak Ohanian, Morris D Groves, Francine J Vriesendorp
Page :669
Brady R Walker, Charles G Pribble, Patrick C Cartwright
Page :669
Inderbir S Gill, Michael G Hobart, Jihad H Kaouk, Caroline M Abramovich, G.Thomas Budd, Charles Faiman
Page :669
R.Scott Anderson, Brian Eifert, Stephen Tartt, Paul King
Page :669
Joe O Littlejohn, A.Barry Belman, Dena Selby
Page :669
Jennifer A Tash, John H McGovern, Peter N Schlegel
Page :670-672
Marcos Tobias-machado, Antonio Corrêa Lopes Neto, Lucila Heloisa Simardi, Milton Borrelli, Eric Roger Wroclawski
Page :671-676
Alexander Kirschenbaum, Adam P Klausner, Richard Lee, Pamela Unger, Shen Yao, Xin-Hua Liu, Alice C Levine
Page :677-681
Jaime Landman, William C Collyer, Ephrem Olweny, Cassio Andreoni, Elspeth McDougall, Ralph V Clayman
Page :682-688
Pirjo Siivola, Kim Pettersson, Timo Piironen, Timo Lövgren, Hans Lilja, Anders Bjartell
Page :689-695
Knut H Franke, Mario Miklosi, Peter Goebell, Sonja Clasen, Christine Steinhoff, Aristoteles G Anastasiadis, Claus-Dieter Gerharz, Wolfgang A Schulz
Page :696-701
Anna J Visser, Ron van Mastrigt
Page :702-707
Alex Tong-Long Lin, Kuang-Kuo Chen, C.H Yang, Luke S Chang
Page :708-711
Steven H Selman
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2025 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.