Vol 56 - N° 3 - juillet 2000
P. 173-222© Elsevier Masson SAS
Page :173-173
A. Depierre
Page :177-177
F. Lebargy
Page :185-185
E. Touboul, E. Deniaud-Alexandre, R. Pereira, F. Deluen
Résumé
Plan
Page :200-200
P. Rebattu, B. Coudert, M. Schneider, R. Ouabdesselam, M.-A. Lentz, A.-R. Hanauske, B. Chevallier, P. Fumoleau, Ph. Chollet
Page :205-205
E. Chatelain, K. Hardy, J. Guigay, B. Tramond, F. Pons, P. L'Her, R. Jancovici
Résumé
Plan
Page :209-209
T. Gentina, F. Arbion, A. Benard, A. Strecker
Résumé
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Page :215-215
F. Barlesi, C. Valentin, J. Eskandari, J. Miltgen, G. Nguyen, D. Bonnet
Plan
Page :217-217
E. H. Sidibe
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Page :219-219
N. Koffi, K.G. Koffi, A. Sangare
Résumé
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Page :222-222
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