Vol 104 - N° 1 - février 2018
P. 1-158Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :iv
Page :1-2
H. Coudane, J.-L. Danan, J. Lighezollo Alnot
Plan
Page :3-4
Page :5-9
J. Mouton, R. Gauthé, M. Ould-Slimane, S. Bertiaux, S. Putman, F. Dujardin
Résumé
Plan
Page :11-15
C. Agout, P. Rosset, J. Druon, J. Brilhault, L. Favard
Résumé
Plan
Page :17-22
A. Bah, G.M. Lateur, B.T. Kouevidjin, J.Y.S. Bassinga, M. Issa, A. Jaafar, E. Beaudouin
Résumé
Plan
Page :23-26
X. Clement, F. Baldairon, P. Clavert, J.-F. Kempf
Résumé
Plan
Page :27-32
M. Le Hanneur, D. Delgrande, T. Lafosse, J.-D. Werthel, P. Hardy, B. Elhassan
Résumé
Plan
Page :33-38
S.-P. Issa, C. Payan, M. Le Hanneur, P. Loriaut, P. Boyer
Résumé
Plan
Page :39-43
M. Boissard, V. Crenn, T. Noailles, S. Campard, F. Lespagnol
Résumé
Plan
Page :45-51
J. Berhouet, M. Rol, C. Spiry, M. Slimane, C. Chevalier, L. Favard
Résumé
Plan
Page :53-58
V.M. Morey, K.H.Z. Chua, Z.D. Ng, H.M.B. Tan, V.P. Kumar
Résumé
Plan
Page :59-65
S.J. Janssen, J.A.M. Bramer, T.G. Guitton, F.J. Hornicek, J.H. Schwab
Résumé
Plan
Page :67-70
S. Gunst, G. Walch, L. Nové-Josserand
Résumé
Plan
Page :71-77
Y. Zhan, C.F. Luo, Y.J. Chen
Résumé
Plan
Page :79-82
V. Marot, X. Bayle-Iniguez, E. Cavaignac, N. Bonnevialle, P. Mansat, J. Murgier
Résumé
Plan
Page :83-88
W. Zheng, J. Su, L. Cai, Y. Lou, J. Wang, X. Guo, J. Tang, H. Chen
Résumé
Plan
Page :89-93
M. Burnier, M. Le Chatelier Riquier, G. Herzberg
Résumé
Plan
Page :95-103
Z.Z. Yuan, Z. Yang, Q. Liu, Y.M. Liu
Résumé
Plan
Page :105-108
V. Fontaine, M. Grunberg, J. Soret, K. El-Youssef, L.-E. Gayet, R. Taberne
Résumé
Plan
Page :109-113
P.W.L. ten Berg, J.G.G. Dobbe, M.E. Brinkhorst, G. Meermans, S.D. Strackee, F. Verstreken, G.J. Streekstra
Résumé
Plan
Page :115-120
J.K. Kim, J.O. Yoon, H. Baek
Résumé
Plan
Page :121-126
E. Peraut, L. Taïeb, C. Jourdan, F. Coroian, I. Laffont, M. Chammas, B. Coulet
Résumé
Plan
Page :127-132
S.K. Lee, Y.H. Kim, K.H. Moon, W.S. Choy
Résumé
Plan
Page :133-136
J.J. Hidalgo Díaz, L. Muresan, S. Touchal, N. Bahlouli, P. Liverneaux, S. Facca
Résumé
Plan
Page :137-145
T. Bauer, S. Klouche, O. Grimaud, A. Lortat-Jacob, P. Hardy
Résumé
Plan
Page :147-153
T. Pollon, J. Sales de Gauzy, T. Pham, C. Thévenin Lemoine, F. Accadbled
Résumé
Plan
Page :155
D. Ollat, O. Barbier
Plan
Page :157
M. Barla, D. Mainard
Plan
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.
Numéro précédent
