Vol 102 - N° 1 - février 2016
P. 1-140Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :iv
Page :1-2
Résumé PlanPage :3-12
T. Lafosse, S. Fogerty, J. Idoine, R. Gobezie, L. Lafosse
Résumé PlanPage :13-17
T.T. Pham, X. Bayle Iniguez, P. Mansat, L. Maubisson, N. Bonnevialle
Résumé PlanPage :19-24
A. Manoli, C.E. Capriccioso, S.R. Konda, K.A. Egol
Résumé PlanPage :25-29
S. Woltz, J.W. Duijff, J.M. Hoogendoorn, S.J. Rhemrev, R.S. Breederveld, I.B. Schipper, F.J.P. Beeres
Résumé PlanPage :31-39
L. Natera-Cisneros, J. Sarasquete-Reiriz, A. Escolà-Benet, J. Rodriguez-Miralles
Résumé PlanPage :41-45
P.-S. Marcheix, G. Vergnenegre, C. Chevalier, J. Hardy, J.-L. Charissoux, C. Mabit
Résumé PlanPage :47-52
H. Namazi, A. Mehbudi
Résumé PlanPage :53-59
I. Djerbi, M. Chammas, M.-P. Mirous, C. Lazerges, B. Coulet
Résumé PlanPage :61-65
S. Teyssédou, M. Saget, L.E. Gayet, P. Pries, C. Brèque, T. Vendeuvre
Résumé PlanPage :67-70
H. Ju, R.A. Hart
Résumé PlanPage :71-76
A. Merini, A. Viste, R. Desmarchelier, M.-H. Fessy
Résumé PlanPage :77-80
J.-L. Rouvillain, F. De Cazes, R. Banydeen, K. Rome, P. Numéric, M. De Bandt, C. Derancourt
Résumé PlanPage :81-85
M.M. Niane, C.V.A. Kinkpé, M. Daffé, L. Sarr, A.B. Gueye, A.D. Sané, S.I.L. Séye
Résumé PlanPage :87-89
I. Sanpera, D. Raluy-Collado, J. Sanpera-Iglesias
Résumé PlanPage :91-97
D. Dimitriou, T.-Y. Tsai, B. Yue, H.E. Rubash, Y.-M. Kwon, G. Li
Résumé PlanPage :99-104
J.R.B. Hutt, M.-A. LeBlanc, V. Massé, M. Lavigne, P.-A. Vendittoli
Résumé PlanPage :105-110
R. Seil, C. Mouton, A. Lion, C. Nührenbörger, D. Pape, D. Theisen
Résumé PlanPage :111-116
A. Grandjean, C. Romana, F. Fitoussi
Résumé PlanPage :117-120
J. Rigal, T. Thelen, A. Angelliaume, J.-R. Pontailler, Y. Lefevre
Résumé PlanPage :121-125
A. Dubory, G. Missenard, C. Court
Résumé PlanPage :127-129
J.-Y. Jenny, O. Goukodadja, C. Boeri, J. Gaudias
Résumé PlanPage :131-134
Y. Herry, F. Boucher, P. Neyret, T. Ferry, S. Lustig
Résumé PlanPage :135-138
B. Sonnery-Cottet, M. Alessio-Mazzola, B.F. Luz, N.C. Barbosa, S. Tuteja, C. Kajetanek, A. Dellal, M. Thaunat
Résumé PlanPage :139
C. Zhang, J. Li
PlanEM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.