Vol 45 - septembre 2017
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Page :6-13
L. Gong, C. He, Y. Yin, Q. Ye, F. Bai, Y. Yuan, H. Zhang, L. Lv, H. Zhang, Z. Zhang, C. Xie
Page :14-19
J. Simon, K. Budge, J. Price, G.M. Goodwin, J.R. Geddes
Page :20-26
P. Golay, L. Alameda, N. Mebdouhi, P. Baumann, C. Ferrari, A. Solida, P. Progin, J. Elowe, P. Conus
Page :27-35
M.P. Hengartner, K. Heekeren, D. Dvorsky, S. Walitza, W. Rössler, A. Theodoridou
Page :36-40
B. Dell’Osso, B. Benatti, C.I. Rodriguez, C. Arici, C. Palazzo, A.C. Altamura, E. Hollander, N. Fineberg, D.J. Stein, H. Nicolini, N. Lanzagorta, D. Marazziti, S. Pallanti, M. Van Ameringen, C. Lochner, O. Karamustafalioglu, L. Hranov, M. Figee, L. Drummond, J. Grant, D. Denys, D. Cath, J.M. Menchon, J. Zohar
Page :41-49
J. Rejas-Gutiérrez, E. Bruguera, S. Cedillo
Page :50-58
A.P. Hulkko, G.K. Murray, J. Moilanen, M. Haapea, I. Rannikko, P.B. Jones, J.H. Barnett, S. Huhtaniska, M.K. Isohanni, H. Koponen, E. Jääskeläinen, J. Miettunen
Page :59-64
J.A. Gethin, K.E. Lythe, C.I. Workman, A. Mayes, J. Moll, R. Zahn
Page :65-71
W. van der Jagt-Jelsma, M. de Vries-Schot, P. Scheepers, P.A.M. van Deurzen, H. Klip, J.K. Buitelaar
Page :72-80
J.-H. Lee, S.K. Park, J.-H. Ryoo, C.-M. Oh, J.-M. Choi, R.S. McIntyre, R.B. Mansur, H. Kim, S. Hales, J.Y. Jung
Page :81-89
M.A. Islam, M.F.H. Khan, P.J. Quee, H. Snieder, E.R. van den Heuvel, R. Bruggeman, B.Z. Alizadeh
Page :90-96
L.B. Thorell, Y. Holst, H. Chistiansen, J.J.S. Kooij, D. Bijlenga, D. Sjöwall
Page :97-103
I. Bitter, P. Czobor, A. Borsi, L. Fehér, B.Z. Nagy, M. Bacskai, P. Rakonczai, R. Hegyi, T. Németh, P. Varga, J. Gimesi-Országh, P. Fadgyas-Freyler, J. Sermon, P. Takács
Page :104-113
A.C. Castagnini, P. Fusar-Poli
Page :114-120
J.T. Zhang, S.-S. Ma, C.-G. Yan, S. Zhang, L. Liu, L.-J. Wang, B. Liu, Y.-W. Yao, Y.-H. Yang, X.-Y. Fang
Page :129-135
M. Buonocore, M. Bosia, M. Bechi, M. Spangaro, S. Cavedoni, F. Cocchi, L. Bianchi, C. Guglielmino, A.R. Mastromatteo, R. Cavallaro
Page :136-138
T. Gargot, C. Dondé, N.A. Arnaoutoglou, R. Klotins, P. Marinova, R. Silva, E. Sönmez, EFPT Psychotherapy Working Group j
Page :139-153
X. Sun, C. Zhu, S.H.W. So
Page :154-160
O. Brus, Y. Cao, E. Gustafsson, M. Hultén, M. Landen, J. Lundberg, P. Nordanskog, A. Nordenskjöld
Page :161-166
S. Andalib, M.R. Emamhadi, S. Yousefzadeh-Chabok, S.K. Shakouri, P.F. Høilund-Carlsen, M.S. Vafaee, T.M. Michel
Page :167-173
T. Vaessen, M. van Nierop, J. Decoster, P. Delespaul, C. Derom, M. de Hert, N. Jacobs, C. Menne-Lothmann, B. Rutten, E. Thiery, J. van Os, R. van Winkel, M. Wichers, I. Myin-Germeys
Page :174-181
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Page :182-189
J. Martín, A. Padierna, A. Loroño, P. Muñoz, J.M. Quintana
Page :190-197
B. Etain, O. Godin, C. Boudebesse, V. Aubin, J.M. Azorin, F. Bellivier, T. Bougerol, P. Courtet, S. Gard, J.P. Kahn, C. Passerieux, FACE-BD collaborators, M. Leboyer, C. Henry
Page :198-206
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Page :207-211
P. Lepping, R. Whittington, R.S. Sambhi, S. Lane, R. Poole, S. Leucht, P. Cuijpers, R. McCabe, W. Waheed
Page :212-219
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Page :221-226
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Page :235-241
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