Vol 43 - N° 4 - septembre 2017
P. 295-400© Elsevier Masson SAS
Page :i
Page :295-297
A.J. Scheen
Page :299-313
F. Bonnet, A.J. Scheen
Page :314-322
M. Seghieri, D. Tricò, A. Natali
Page :323-331
C.J. Petry, K. Mooslehner, P. Prentice, M.G. Hayes, M. Nodzenski, D.M. Scholtens, I.A. Hughes, C.L. Acerini, K.K. Ong, W.L. Lowe, D.B. Dunger
Page :332-337
Y. Gutiérrez-Grobe, E. Juárez-Hernández, B.A. Sánchez-Jiménez, M.H. Uribe-Ramos, M.H. Ramos-Ostos, M. Uribe, N.C. Chávez-Tapia
Page :338-344
A.J.J.M. Oostvogels, C.P. Landstra, L. Britsemmer, R. Lodewijkx, K. Stronks, T.J. Roseboom, T.G.M. Vrijkotte
Page :345-350
L. Shen, L. Song, H. Li, B. Liu, X. Zheng, L. Zhang, J. Yuan, Y. Liang, Y. Wang
Page :351-358
G.B. Bolli, M.C. Riddle, R.M. Bergenstal, M. Wardecki, H. Goyeau, P.D. Home, EDITION 3 study investigators
Page :359-363
W. Gu, Y. Liu, Y. Chen, W. Deng, X. Ran, L. Chen, D. Zhu, J. Yang, J. Shin, S.W. Lee, T.L. Cordero, Y. Mu
Page :364-367
I. Jialal, B. Adams-Huet, A. Major, S. Devaraj
Page :368-372
L. Guénette, A. Zongo, L. Guillaumie, S. Lauzier, L. Blais, J.-P. Grégoire, J. Moisan
Page :373-374
M.D. Garcia de Lucas, J. Olalla Sierra
Page :375-377
A. Catalano, B. Pintaudi, N. Morabito, L. Giunta, S. Loddo, F. Corrado, R. D’Anna, A. Lasco, A. Di Benedetto
Page :378-381
Kanza Benomar, Stéphanie Espiard, Claire Vahe, Kristell Le Mapihan, Arnaud Jannin, Sébastien Dharancy, Marc Hazzan, Marie-Christine Vantyghem
Page :382-384
L. Lei, L. Cui, Y. Mao, X. Zhang, Q. Jiang, S. Dong, Y. Wang
Page :385-388
M. Kim, M. Kim, H.J. Yoo, R. Yun, S.-H. Lee, J.H. Lee
Page :389-391
C. Ress, A.R. Moschen, V. Thoeni, C.F. Ebenbichler, H. Weiss, C. Molnar, G. Weiss, H. Tilg, S. Kaser
Page :392-394
A. Moutairou, R. Roussel, B. Charbonnel, A. Leye, B. Detournay, K. Mohammedi, L. Potier
Page :395-397
S. Fellahi, L. Béraud, G. Marlin, C. Vigouroux, J. Warszawski, J. Capeau, J.-P. Bastard
Page :398-399
S. Kamei, H. Kaneto, A. Tanabe, T. Kinoshita, A. Obata, T. Kimura, H. Hirukawa, F. Tatsumi, M. Shimoda, K. Kohara, Takatoshi Anno, S. Nakanishi, T. Mune, K. Kaku
EM-CONSULTE.COM est déclaré à la CNIL, déclaration n° 1286925.
En application de la loi nº78-17 du 6 janvier 1978 relative à l'informatique, aux fichiers et aux libertés, vous disposez des droits d'opposition (art.26 de la loi), d'accès (art.34 à 38 de la loi), et de rectification (art.36 de la loi) des données vous concernant. Ainsi, vous pouvez exiger que soient rectifiées, complétées, clarifiées, mises à jour ou effacées les informations vous concernant qui sont inexactes, incomplètes, équivoques, périmées ou dont la collecte ou l'utilisation ou la conservation est interdite.
Les informations personnelles concernant les visiteurs de notre site, y compris leur identité, sont confidentielles.
Le responsable du site s'engage sur l'honneur à respecter les conditions légales de confidentialité applicables en France et à ne pas divulguer ces informations à des tiers.
Tout le contenu de ce site: Copyright © 2024 Elsevier, ses concédants de licence et ses contributeurs. Tout les droits sont réservés, y compris ceux relatifs à l'exploration de textes et de données, a la formation en IA et aux technologies similaires. Pour tout contenu en libre accès, les conditions de licence Creative Commons s'appliquent.