Vol 176 - N° 3 - septembre 1998
P. 229-300© Elsevier Masson SAS
Page :230-232
Page :233-234
Naomichi Nishikimi, Akihiko Usui, Tsuneo Ishiguchi, Masahiro Matsushita, Tsunehisa Sakurai, Yuji Nimura
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Page :235-238
Kaoru Kitamura, Makoto Hashizume, Keizo Sugimachi, Akemi Kataoka, Shinji Ohno, Hiroyuki Kuwano, Yoshihiko Maehara
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Page :239-243
Richard J Bold, Paul F Mansfield, David H Berger, Raphael E Pollock, S.Eva Singletary, Frederick C Ames, Charles M Balch, David C Hohn, Merrick I Ross
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Page :244-250
Erica Frank, Michelle Brownstein, Kimberly Ephgrave, Leigh Neumayer
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Page :251-253
Nancy A Diettrich, Gerald Kaplan
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Page :254-257
Diarmuid S O’Riordain, Paul Kelly, Paul G Horgan, Frank B.V Keane, W.Arthur Tanner
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Page :258-261
M.Geraldine Cunniffe, Oliver J McAnena, Manzoor A Dar, John Calleary, Noel Flynn
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Page :262-264
Eugene F. Foley, Robert V. Kolecki, Bruce D. Schirmer
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Page :265-269
Renata Fabia, Marlon F Levy, Giuliano Testa, Samuel Obiekwe, Robert M Goldstein, Bo S Husberg, Thomas A Gonwa, Goran B Klintmalm
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Page :270-273
Norihiro Sato, Koji Yamaguchi, Kazuo Chijiiwa, Masao Tanaka
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Page :274-278
Brij M.L Kapur, Mahesh C Misra, Vuthaluru Seenu, Arun Kumar Goel
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Page :279-282
Masayuki Sho, Yoshiyuki Nakajima, Hiromichi Kanehiro, Michiyoshi Hisanaga, Kazushi Nishio, Mitsuo Nagao, Yukihiro Tatekawa, Naoya Ikeda, Hideki Kanokogi, Takatsugu Yamada, Shinji Hirohashi, Rina Hirohashi, Hideo Uchida, Hiroshige Nakano
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Page :283-285
Daniel C. Cullinane, David E. Parkus, V. Sreenath Reddy, Craig R. Nunn, Edmund J. Rutherford
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Page :286-290
Simon Law, Caroline Arcilla, Kent-man Chu, John Wong
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Page :291-294
Mazin S. Al-Hakeem, Marvin A. McMillen
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Page :295-297
Keiichi Kubota, Masatoshi Makuuchi, Yasuhiko Sugawara, Yutaka Midorikawa, Yoshihiro Sakamoto, Tadatoshi Takayama, Yasushi Harihara
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