Vol 143 - N° 3 - mars 2007
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Page :A2
Page :381
Jens Bühren, Christoph Kühne, Thomas Kohnen
Page :390
Li Lim, Rui Hua Wei, Wing Kwong Chan, Donald T.H. Tan
Page :401
Baris Sonmez, Minh-Phuong Doan, D. Rex Hamilton
Page :409
Biljana Miljanović, Reza Dana, David A. Sullivan, Debra A. Schaumberg
Page :416-419
Anthony J. Aldave, Baris Sonmez, S. Lance Forstot, Sylvia A. Rayner, Vivek S. Yellore, Ben J. Glasgow
Page :420
Baris Sonmez, Robert K. Maloney
Page :428
Jin-Wei Cheng, Rui-Li Wei, Ji-Ping Cai, Gui-Lin Xi, Huang Zhu, You Li, Xiao-Ye Ma
Page :437
Dan Georgescu, Marielle Payne, Randall J. Olson
Page :441
Eva Stifter, Rupert Menapace
Page :449
Alfredo Pece, Maria Vadalà, Vincenzo Isola, Domenica Matranga
Page :455
David Gaucher, Belkacem Haouchine, Ramin Tadayoni, Pascale Massin, Ali Erginay, Nathanael Benhamou, Alain Gaudric
Page :463
Frank G. Holz, Almut Bindewald-Wittich, Monika Fleckenstein, Jens Dreyhaupt, Hendrik P.N. Scholl, Steffen Schmitz-Valckenberg, Fam-Study Group
Page :473
Ronald Klein, Yingzi Deng, Barbara E.K. Klein, Leslie Hyman, Johanna Seddon, Robert N. Frank, Robert B. Wallace, Susan L. Hendrix, Baruch D. Kuppermann, Robert D. Langer, Lewis Kuller, Robert Brunner, Karen C. Johnson, Asha M. Thomas, Mary Haan
Page :484
Xiu Ying Wang, Son C. Huynh, George Burlutsky, Jenny Ip, Fiona Stapleton, Paul Mitchell
Page :489-493
Jiang Xi Xiao, Sheng Xie, Jin Tang Ye, Hai Hua Liu, Xiao Ling Gan, Gao Lang Gong, Xue Xiang Jiang
Page :494-499
Dana Blumberg, Nathan Congdon, Henry Jampel, Donna Gilbert, Richard Elliott, Richard Rivers, Beatrice Munoz, Harry Quigley
Page :500-503
Michael W. Belin, Stephen S. Khachikian
Page :504-505
Petros E. Carvounis, Andrew C. Kopel, Matthew S. Benz
Page :505-507
Sophie J. Bakri, Anna S. Kitzmann
Page :507
Fumi Gomi, Kentaro Nishida, Yusuke Oshima, Hirokazu Sakaguchi, Miki Sawa, Motokazu Tsujikawa, Yasuo Tano
Page :510-512
Christine Y. Chen, Tien Y. Wong, Wilson J. Heriot
Page :512-513
Andrew C.G. Steffensmeier, Antoine E. Azar, Jeffrey J. Fuller, Barbara A. Muller, Stephen R. Russell
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Lori Ann F. Kehler, K. Bradley Kehler, Lawrence M. Merin, James C. Tsai
Page :516-518
Robert J. Brockhurst, Michael A. Sandberg
Page :518-520
Son C. Huynh, Xiu Ying Wang, George Burlutsky, Paul Mitchell
Page :521-522
Joel M. Solano, Keith H. Baratz, Michael A. Mahr, Jay C. Erie
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Tariq M. Aslam, Manish Gupta, David Gilmour, Niall Patton, Baljean Dhillon
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Mike P. Holzer, Tanja M. Rabsilber, Gerd U. Auffarth
Page :526-528
Diamond Y. Tam, M. Reza Vagefi, Ayman Naseri
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Serge Doan, Eric E. Gabison, Sylvia Nghiem-Buffet, Olivia Abitbol, Damien Gatinel, Thanh Hoang-Xuan
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Somsiri Sukavatcharin, Sylvia Cursino, Gisele Li, Ronald L. Green, Jennifer I. Lim, Narsing A. Rao
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Harumasa Yokota, Taiji Nagaoka, Fumihiko Mori, Taiichi Hikichi, Hiromichi Hosokawa, Hiroshi Tanaka, Yuichi Ishida, Fumiaki Suzuki, Akitoshi Yoshida
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Alfredo Adán, Raimon Sanmartí, Anniken Burés, Ricardo P. Casaroli-Marano
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Lani T. Hoang, Lyndell L. Lim, R. Christopher Walton, Debra A. Goldstein, Brent Chalmers, James T. Rosenbaum
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Lynnelle K. Smith, Paul A. Kurz, David J. Wilson, Christina J. Flaxel, James T. Rosenbaum
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Curtis E. Margo, Dustin D. French
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Gaurav Prakash, Namrata Sharma, Preeti Sharma, Vandana Choudhary, Jeewan S. Titiyal
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Suzanna Airiani, Richard E. Braunstein
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P. Rekonen, T. Kannisto, T. Puustjärvi, M. Teräsvirta, H. Uusitalo
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A. Jongsareejit
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J. O’Connor, M. O’Keefe, P.I. Condon
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A. Ertan, M. Bahadir
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S. Ramat, R.J. Leigh, D.S. Zee, L.M. Optican
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H.V. Danesh-Meyer, H. Birch, J.Y.F. Ku, S. Carroll, G. Gamble
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W. Whiteley, R. Al-Shahi, C.P. Warlow, M. Zeidler, C.J. Lueck
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D.P. Kidd, T. Revesz, N.R. Miller
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V.H. Lee, R.D. Brown, J.N. Mandrekar, B. Mokri
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S.C. Johnston, M.N. Nguyen-Huynh, M.E. Schwarz, K. Fuller, C.E. Williams, S.A. Josephson, G.J. Hankey, R.G. Hart, S.R. Levine, J. Biller, R.D. Brown, R.L. Sacco, L.J. Kappelle, P.J. Koudstaal, J. Bogousslavsky, L.R. Caplan, J. van Gijn, A. Algra, P.M. Rothwell, H.P. Adams, G.W. Albers
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P.T. Johnson, K.E. Betts, M.J. Radeke, G.S. Hageman, D.H. Anderson, L.V. Johnson
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K. Berman, H. Brodaty
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Penny A. Asbell, Ted T. Du
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