Vol 178 - N° 6 - juin 2022
P. 499-634© Elsevier Masson SAS
Página :i
Página :iv
Página :499-511
J. Reis, A. Buguet, G.C. Román, P.S. Spencer
Resumen
Esquema
Página :512-520
A. Balcerac, C. Louapre
Resumen
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Página :521-531
O. Walusinski
Resumen
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Página :532-538
M.-H. Marion
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Página :539-545
A. Bani-Sadr, M. Aguilera, M. Cappucci, M. Hermier, R. Ameli, A. Filip, R. Riva, C. Tuttle, T.-H. Cho, L. Mechtouff, N. Nighoghossian, O. Eker, Y. Berthezene
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Página :546-557
L. Simoni-Bazziconi, F. Azri-Negadi, F.-M. Merrien, A. Jourdain, A. Leblanc, I. Viakhireva-Dovganyuk, P. Goas, F. Rouhart, M. Consigny, S. Timsit
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Página :558-568
A. Ter Schiphorst, C. Duflos, I. Mourand, N. Gaillard, C. Dargazanli, L. Corti, P. Prin, A. Lippi, X. Ayrignac, M. Charif, A. Wacongne, S. Bouly, T. Lalu, D. Sablot, G. Blanchet-Fourcade, N. Landragin, F. Jacob, C. Sayad, I. Derraz, F. Cagnazzo, P.-H. Lefevre, G. Gascou, O. Beaufils, V. Costalat, C. Arquizan
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Página :569-579
M. Lefort, G. Le Corre, E. Le Page, C. Rizzato, D. Le Port, L. Michel, A. Kerbrat, E. Leray, G. Edan
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Página :580-590
D. Veillard, E. Le Page, J. Epstein, S. Wiertlewski, P. Gallien, S. Hamonic, M. Debouverie, G. Edan
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Página :591-602
A. Kreisler, S. Djelad, C. Simonin, G. Baille, E. Mutez, A. Degardin, L. Defebvre, J. Labreuche, E. Cailliau, A. Duhamel
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Página :603-608
G.M.A.S. Tedrus, M.N. Augusto, H.P.B. Bonolo
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Página :609-615
B. Thomas, J. Aupy, G. Penchet, M. De Montaudouin, F. Bartolomei, A. Biraben, H. Catenoix, F. Chassoux, S. Dupont, L. Valton, V. Michel, C. Marchal
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Página :616-623
E. N’kaoua, S. Attarian, E. Delmont, E. Campana-Salort, A. Verschueren, A.-M. Grapperon, E. Mestivier, M. Roche
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Página :624-625
S. Bellakhdar, J. Maskaoui, K. Haddouali, B. El Moutawakil, M.A. Rafai, H. El Otmani
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Página :626-627
J. Theuriet, A. Pegat, E. Bernard, C. Richard, J.-P. Camdessanche, S. Vukusic
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Página :628-629
A.E. Cavanna
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Página :629-631
M. Boukobza, J.-P. Laissy
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Página :631-633
F. Frikha, E. Ellouz, C. Damak, Y. Hentati, S. Mekki, Z. Bahloul
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Página :634
P. Lebon, A. Gelot, S.-Y. Zhang, J.-L. Casanova, J.-J. Hauw
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