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184 Predictive factors of difficult implantation procedure in cardiac resynchronization therapy - 07/07/11

Doi : 10.1016/S1878-6480(11)70186-0 
Laurence Bisch, Antoine Da Costa, Cécile Romeyer-Bouchard, Lyla Khriss, Karl Isaaz
Université de Saint Etienne, Cardiologie, Saint Etienne, France 

Résumé

No studies have been published regarding factors related to difficult CRT implantation procedure and primary left ventricular (LV) lead implant failure.

Objectives

The aim of this prospective study was twofold: (1) to evaluate the prevalence and predictive factors of prolonged CRT implantation procedure; (2) to identify the predictive factors of primary LV lead implantation failure.

Methods and Results

Between November 2008 and September 2009, 106 pts underwent primo CRT implantation. Population characteristics were a mean age of 69 ± 10 years; 28.3% female; NYHA class 3.2 ± 0.3; LVEF (29 ± 6%); QRS width 146 ± 23 ms. Primo CRT implantation was obtained in 96/106 pts (90.5% primary success). A second procedure was successfully attempted in 6/10 pts with a second more experienced operator (5.7%). Among the remaining 4 pts, 1 pt required an epicardial LV lead implantation, and the implantation was not reattempted in the other 3 pts. The overall success rate of CRT implantation was 96.2% (102/106 pts). Procedure parameters were as follows: LV threshold (1.4 ± 0.9V); LV wave amplitude (15 ± 8mV); LV impedance (874 ± 215 Ohms); median procedure time (skin to skin), 55 min. [45–80] and median of procedure fluoroscopy time, 11 min. [6.2–29]. In 24 patients (22.6%), difficult procedures requiring 85 min of implantation duration occurred. By univariate analysis, predictive factors of difficult implantation were LV ejection fraction (25.6 ± 6 vs. 30.2 ± 8%; p = 0.02), LVEDD (72.4 ± 11 vs. 66 ± 11 mm; p = 0.01), LVESD (62 ± 12 vs. 56 ± 12 mm; p = 0.04) and the operator’s experience (very experienced operator vs. less experienced operator; p = 0.006). By multivariate analysis, only primary LV lead implantation failure, LVESD and operator’s experience were independently associated with difficult procedures. In this patient subset with primary LV lead implant failure (n = 10), the only independent predictive factor was the LVESV (p = 0.03).

Conclusions

In this study, the rate of difficult CRT device implantation procedures approached 25%. Both the degree of LV dysfunction and the operator’s experience were independent predictors of surgical difficulties.

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Vol 3 - N° 1

P. 60 - janvier 2011 Retour au numéro
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