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Attachment of trianglamines to silicon wafers, chiral recognition by chemical force microscopy - 17/05/10

Doi : 10.1016/j.crci.2010.01.004 
Jiri Hlinka a, b, Jana Hodacova a, b, , Laurence Raehm c, Michel Granier c, Michel Ramonda d, Jean-Olivier Durand c,
a Institute of Organic Chemistry and Biochemistry, Academy of Sciences of the Czech Republic Flemingovo nam.2, 16610 Prague 6, Czech Republic 
b Department of Organic Chemistry, Institute of Chemical Technology, Technicka 5, 16628 Prague 6, Czech Republic 
c Université Montpellier 2, Institut Charles Gerhardt Montpellier, CNRS, UMR 5253, CC1701, Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier cedex 5, France 
d Université Montpellier 2, service de microscopie à champ proche, place Eugène-Bataillon, 34095 Montpellier cedex 5, France 

Corresponding author.Co-corresponding author. UMR 5253 CNRS-UM2-ENSCM-UM1, équipe chimie moléculaire et organisation du solide, institut Charles-Gerhardt Montpellier, CC1701, place Eugène-Bataillon, 34095 Montpellier cedex 05, France.

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Abstract

The chemical attachment of enantiomerically pure trianglamines to silicon wafers through isocyanate functions was performed. The self-assembled monolayer was analyzed by ATR-FTIR, ellipsometry, AFM, contact angle measurements. An AFM tip was functionalized by enantiomerically pure trianglamine using the same pathway. Chemical force microscopy showed chiral recognition between the functionalized tip and the functionalized wafer.

Le texte complet de cet article est disponible en PDF.

Keywords : Trianglamines, Chemical force microscopy, Chiral recognition


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Vol 13 - N° 4

P. 481-485 - avril 2010 Retour au numéro
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