Monte Carlo study of coaxially gated CNTFETs: capacitive effects and dynamic performance - 22/03/08
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Abstract |
Carbon nanotubes (CNT) appear as a promising candidate to shrink field-effect transistors (FET) to the nanometer scale. Extensive experimental works have been performed recently to develop the appropriate technology and to explore DC characteristics of a carbon nanotube field effect transistor (CNTFET). In this work, we present results of a Monte Carlo simulation of a coaxially gated CNTFET, including electron-phonon scattering. Our purpose is to present the intrinsic transport properties of such material through the evaluation of the electron mean-free-path. To highlight the potential of the high performance level of CNTFET, we then perform a study of the DC characteristics and of the impact of capacitive effects. Finally, we compare the performance of CNTFET with that of a Si nanowire MOSFET. To cite this article: H. Cazin dʼHonincthun et al., C. R. Physique 9 (2008).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Résumé |
Le nanotube de carbone (CNT) est à ce jour lʼun des candidats les plus prometteurs pour faire passer le transistor à effet de champ (FET) à lʼéchelle du nanomètre. Des recherches intensives sont en cours afin de déterminer les caractéristiques statiques et dynamiques des transistors à nanotube de carbone (CNTFET). Nous présentons dans cette étude des résultats de simulations de CTNFET par la méthode Monte-Carlo avec prise en compte des interactions électrons-phonons. Un des objectifs est de présenter les propriétés du transport pouvant être atteintes dans ce matériau par une évaluation du libre parcours moyen des porteurs. Une étude des caractéristiques statiques du CNTFET est réalisée et permet de mettre en avant lʼinfluence du contrôle capacitif par la grille sur les performances. Enfin nous comparons les performances dʼun CNTFET avec celles obtenues par simulation dʼun transistor à nanofil de Silicium. Pour citer cet article : H. Cazin dʼHonincthun et al., C. R. Physique 9 (2008).
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Keywords : Monte Carlo simulation, CNTFET, Delay time, Cutoff frequency, Electron-phonon scattering, Quantum capacitance
Mots-clés : Simulation Monte Carlo, CNTFET, Délai intrinsèque, Fréquence de transition, Interaction electron-phonon, Capacité quantique
Plan
Vol 9 - N° 1
P. 67-77 - janvier 2008 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.
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