Friedel oscillations in graphene-based systems probed by Scanning Tunneling Microscopy - 07/01/16
Abstract |
For the last 25 years, scientists have demonstrated the capabilities of Scanning Tunneling Microscopy (STM) to visualize in real space the response of a two-dimensional electron gas to atomic-scale impurities. The analysis of the Friedel oscillations surrounding the impurities yields valuable information regarding the elastic scattering properties, the band structure, the doping level and the symmetry of the electronic states in the two-dimensional host system. We will address in this article the use of this technique for probing the electronic properties of graphene, the star two-dimensional compound of the last decade. In particular, we will emphasize how this technique can be pushed up to unravel the electronic pseudospin, a distinctive degree of freedom of graphene's Dirac fermions.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Résumé |
Depuis 25 ans, les scientifiques utilisent la microscopie à effet tunnel afin de visualiser dans l'espace direct la réponse d'un gaz d'électron bidimensionnel à des impuretés de taille atomique. L'analyse des oscillations de Friedel générées autour de telles impuretés donne des informations précieuses sur le système 2D : propriétés de diffusion élastique, structure de bande, niveau de dopage et symétrie des états électroniques. Cet article est consacré à l'analyse par microscopie à effet tunnel des oscillations de Friedel dans le graphène, matériau 2D star de cette dernière décennie. En particulier, nous montrons comment cette technique permet d'accéder au pseudospin, un degré de liberté unique propre aux fermions de Dirac du graphène.
Le texte complet de cet article est disponible en PDF.Keywords : Friedel oscillations, Graphene, Dirac fermions, Electronic pseudospin, Scanning tunneling microscopy
Mots-clés : Oscillations de Friedel, Graphène, Fermions de Dirac, Pseudospin électronique, Microscope à effet tunnel
Plan
Vol 17 - N° 3-4
P. 294-301 - mars 2016 Retour au numéroBienvenue sur EM-consulte, la référence des professionnels de santé.